Ηλεκτρικός χαρακτηρισμός mosfet και τεχνικές ταυτοποίησης ομοιότητας

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Τσιούρης, Βασίλης
Μορφή: Πτυχιακή εργασία
Γλώσσα:Greek
Έκδοση: Α.Ε.Ι. Πειραιά Τ.Τ. 17-1
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://okeanis.lib2.uniwa.gr/xmlui/handle/123456789/5096
_version_ 1780524610986442752
abstract Στην παρούσα πτυχιακή εργασία θα μελετηθούν τα τρανζίστορ επίδρασης πεδίου και θα παρουσιαστούν οι αρχές λειτουργίας των τρανζίστορ με τη μελέτη να εστιάζεται στα MOSFET. Σκοπός της πτυχιακής εργασίας είναι να πραγματοποιήσουμε μετρήσεις για κάποια από τα βασικά χαρακτηριστικά των τρανζίστορ ώστε να εξετάσουμε κατά πόσο τα ηλεκτρικά χαρακτηριστικά των τρανζίστορ παραγωγής που διατίθενται στο εμπόριο ταυτίζονται ή όχι. Για να ελέγξουμε τα παραπάνω, θα συλλέξουμε κάποια τρανζίστορ από την αγορά ώστε να προχωρήσουμε σε μία διαδικασία αξιολόγησης κάποιων βασικών τους χαρακτηριστικών και θα συγκρίνουμε έπειτα για ιδίου τύπου τρανζίστορ το πώς αυτά μεταβάλλονται. Χρησιμοποιώντας εργαστηριακό εξοπλισμό όπως παλμογράφο, τροφοδοτικά, γεννήτριες κλπ θα μπορέσουμε πειραματικά στο εργαστήριο να συλλέξουμε μετρήσεις για τα τρανζίστορ όπως αντίσταση, χωρητικότητα και διαγωγιμότητα και να τα συγκρίνουμε. Τέλος, θα παρουσιάσουμε τα συμπεράσματα στα οποία καταλήγουμε αναφορικά με την ταύτιση των μετρήσεων και τη συμπεριφορά των τρανζίστορ σε σύγκριση με τις προδιαγραφές του κατασκευαστή.
abstracttranslated In this thesis, the field effect transistors will be studied and the principles of transistors operating with the study focused on MOSFETs will be presented.The purpose of the thesis is to measure some of the basic characteristics of transistors in order to examine whether or not the electrical characteristics of commercially available transistors are identical. To test the above, we will collect some transistors from the market to go through a process of evaluating some of their key features and then compare for a transistor of the same type how they change.Using laboratory equipment such as oscilloscopes, power supplies, generators etc. we will be able to experimentally collect measurements for transistors such as resistance, capacitance and conductivity and compare them.Finally, we will present the conclusions we draw on the identification of the transistors measurements and the behavior compared to the manufacturer's specifications.
advisor
author Τσιούρης, Βασίλης
author_facet Τσιούρης, Βασίλης
author_sort Τσιούρης, Βασίλης
collection Okeanis Institutional Repository
facultydepartment Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών Τ.Ε.
format Πτυχιακή εργασία
id okeanis-123456789-5096
institution University of West Attica Campus II
keyword MOSFET
Ηλεκτρικός χαρακτηρισμός
Τρανζίστορ
Τρανζίστορ επίδρασης πεδίου
language Greek
physical 83
publishDate 17-1
publisher Α.Ε.Ι. Πειραιά Τ.Τ.
record_format dspace
spelling okeanis-123456789-50962019-11-05T09:34:00Z Ηλεκτρικός χαρακτηρισμός mosfet και τεχνικές ταυτοποίησης ομοιότητας Electrical characterizations of mosfet matching techniques Τσιούρης, Βασίλης Γαλατά, Σωτηρία Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών Τ.Ε. TPSH::Τεχνολογία::Ηλεκτρονική::Ηλεκτρονικές Μετρήσεις MOSFET Ηλεκτρικός χαρακτηρισμός Τρανζίστορ Τρανζίστορ επίδρασης πεδίου Στην παρούσα πτυχιακή εργασία θα μελετηθούν τα τρανζίστορ επίδρασης πεδίου και θα παρουσιαστούν οι αρχές λειτουργίας των τρανζίστορ με τη μελέτη να εστιάζεται στα MOSFET. Σκοπός της πτυχιακής εργασίας είναι να πραγματοποιήσουμε μετρήσεις για κάποια από τα βασικά χαρακτηριστικά των τρανζίστορ ώστε να εξετάσουμε κατά πόσο τα ηλεκτρικά χαρακτηριστικά των τρανζίστορ παραγωγής που διατίθενται στο εμπόριο ταυτίζονται ή όχι. Για να ελέγξουμε τα παραπάνω, θα συλλέξουμε κάποια τρανζίστορ από την αγορά ώστε να προχωρήσουμε σε μία διαδικασία αξιολόγησης κάποιων βασικών τους χαρακτηριστικών και θα συγκρίνουμε έπειτα για ιδίου τύπου τρανζίστορ το πώς αυτά μεταβάλλονται. Χρησιμοποιώντας εργαστηριακό εξοπλισμό όπως παλμογράφο, τροφοδοτικά, γεννήτριες κλπ θα μπορέσουμε πειραματικά στο εργαστήριο να συλλέξουμε μετρήσεις για τα τρανζίστορ όπως αντίσταση, χωρητικότητα και διαγωγιμότητα και να τα συγκρίνουμε. Τέλος, θα παρουσιάσουμε τα συμπεράσματα στα οποία καταλήγουμε αναφορικά με την ταύτιση των μετρήσεων και τη συμπεριφορά των τρανζίστορ σε σύγκριση με τις προδιαγραφές του κατασκευαστή. In this thesis, the field effect transistors will be studied and the principles of transistors operating with the study focused on MOSFETs will be presented.The purpose of the thesis is to measure some of the basic characteristics of transistors in order to examine whether or not the electrical characteristics of commercially available transistors are identical. To test the above, we will collect some transistors from the market to go through a process of evaluating some of their key features and then compare for a transistor of the same type how they change.Using laboratory equipment such as oscilloscopes, power supplies, generators etc. we will be able to experimentally collect measurements for transistors such as resistance, capacitance and conductivity and compare them.Finally, we will present the conclusions we draw on the identification of the transistors measurements and the behavior compared to the manufacturer's specifications. 17-10 Πτυχιακή εργασία http://okeanis.lib2.uniwa.gr/xmlui/handle/123456789/5096 el Α.Ε.Ι. Πειραιά Τ.Τ. 83 http://okeanis.lib2.uniwa.gr/xmlui/bitstream/123456789/5096/4/%ce%9c.%ce%a4.%ce%95.05977.pdf.jpg
spellingShingle TPSH::Τεχνολογία::Ηλεκτρονική::Ηλεκτρονικές Μετρήσεις
Τσιούρης, Βασίλης
Ηλεκτρικός χαρακτηρισμός mosfet και τεχνικές ταυτοποίησης ομοιότητας
title Ηλεκτρικός χαρακτηρισμός mosfet και τεχνικές ταυτοποίησης ομοιότητας
title_full Ηλεκτρικός χαρακτηρισμός mosfet και τεχνικές ταυτοποίησης ομοιότητας
title_fullStr Ηλεκτρικός χαρακτηρισμός mosfet και τεχνικές ταυτοποίησης ομοιότητας
title_full_unstemmed Ηλεκτρικός χαρακτηρισμός mosfet και τεχνικές ταυτοποίησης ομοιότητας
title_short Ηλεκτρικός χαρακτηρισμός mosfet και τεχνικές ταυτοποίησης ομοιότητας
title_sort ηλεκτρικός χαρακτηρισμός mosfet και τεχνικές ταυτοποίησης ομοιότητας
title_translated Electrical characterizations of mosfet matching techniques
topic TPSH::Τεχνολογία::Ηλεκτρονική::Ηλεκτρονικές Μετρήσεις
url http://okeanis.lib2.uniwa.gr/xmlui/handle/123456789/5096