Runyan W. R. & Shaffner T. J. (1998). Semiconductor measurements and instrumentation (2nd ed.). McGraw-Hill.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Runyan W. R. και Shaffner T. J. Semiconductor Measurements and Instrumentation. 2nd ed. McGraw-Hill, 1998.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Runyan W. R. και Shaffner T. J. Semiconductor Measurements and Instrumentation. 2nd ed. McGraw-Hill, 1998.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.